光通訊高壓加速老化試驗箱
- 更新時間：2025-12-17
光通訊高壓加速老化試驗箱試驗目的：加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度、與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等），加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。
| 品牌 | 艾思荔/Asli | 溫度范圍 | 100~135℃ |
|---|---|---|---|
| 濕度范圍 | 100% R.H | 額定電壓 | 220V |
| 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 加工定制 | 是 |
光通訊高壓加速老化試驗箱規(guī)格：
內部尺寸：Φ25×40
外部尺寸：W56×H100×D65
溫度范圍：+100℃～+132℃
濕度范圍：98%
溫度控制器：采用微電腦LED顯示薄膜按鍵型PID控溫儀表,溫度單點獨立控制,并附多組加熱系統(tǒng)：不銹鋼鰭片式加熱器.
加濕系統(tǒng)：電加熱表面蒸發(fā)方式,并附清洗用排水口.
內箱材質：鏡面不銹鋼（SUS#304）.
外箱材質：靜電噴涂技術處理（SUS#304）.
安全保護裝置：無熔絲過負載保護器,壓縮機過流過載保護器,超溫斷電保護器,缺水保護,加熱加濕器干燒保護,加熱加濕器快速保險.
使用電壓：1Ф220V8A50HZ±10%
用水要求：RO逆滲透純水或蒸餾水.
高壓加速老化試驗箱試驗目的：
1、加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度、與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等），加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。
2、用于調查分析何時出現(xiàn)電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。
3、隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT(HAST）現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC(國際電工委員會）所標準化。注意事項：USPCT現(xiàn)在稱為HAST(高度加速應力試驗）。
高壓加速老化試驗箱安全裝置：
1、鍋內安全裝置：鍋門若未關緊則機器無法啟動。
2、安全閥：當鍋內壓力超過大工作值自動排氣泄壓。
3、雙重過熱保護裝置：當鍋內溫度過高時，機器嗚叫警。
4、報并自動切斷加熱電源。
5、門蓋保護：ABS材質制成可防止操作人員接觸燙傷。
光通訊高壓加速老化試驗箱 壹叁伍 叁捌肆陸 玖零柒陸 是艾思荔檢測儀器是專業(yè)主打的產(chǎn)品，艾思荔檢測儀器是模擬自然環(huán)境的明星企業(yè)，生產(chǎn)歷史長、技術精。為國內多家品牌測試設備廠所配套使用,建廠叁十余年,備受好評,多次被評為“省優(yōu)"產(chǎn)品。
